| 三四极质谱仪 |
| WOJP11072506 2011-9-30 发明申请 |
| 2012-8-9 |
| 本发明的一个目的是获得一种高-质量的质量光谱与减轻质量\/电荷中的轴偏差一三四极质谱仪即使当执行一个高-质量的速度扫描与MS\/MS分析。质量校准表(22a1，22a2，22b1，22b1)，其表示M\/Z和一质量偏差值之间的关系，其采取扫描速度作为一个参数是分开准备用于使用在MS分析，其不包括分离操作和MS\/MS分析不包括分离操作。根据一测量模式，诸如一种产品离子扫描测量或一中性损耗扫描测量，当进行MS\/MS分析，质量偏差值用于所述最小扫描速度(S1)中的一个表被用于一四极，其中所述选择的M\/Z是固定的，用于一指定的扫描速度和质量偏差值在一表是用于一四极，其中所述质量扫描进行，因此控制所述的每个的操作所述前四极和所述后续的四极。 |
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