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产业专利数据

多光谱数据处理

US14686569 2015-4-14 发明申请

2015-12-17

对样品进行多路复用光谱测定，例如多路复用离子迁移率光谱测定(IMS)、飞行时间质谱测定(TOFMS)或混合IM-TOFMS测定，并解卷积得到的测量数据。可以在反卷积之前从测量数据中去除噪声。可选地或附加地，可以从解卷积数据中去除噪声。