样品制备系统,用于测量碳14
 
JP2012233897  2012-10-23  发明申请

2014-5-12
 
  要解决的问题 : org。得到的共2时,产生从石墨,Co2或冷却的废剂或还原剂可以被防止,进一步,共214C的恢复率,可以抑制降低样品制备系统。[溶液]14℃测量样品的制备系统1包括,一质谱仪40和所述分析器元件10被连接到一个单碳生成装置50。该燃烧管11所述分析仪的样品23中元件10被包含在所述通过燃烧产生CO气体2或以2,等,所述吸附到该解吸列13。一种温度编程解吸柱13通过加热一种共2是脱气是,通过通风线路32的单碳生成装置50是所述阱中收集的51。在这个时间,所述控制部50通过,温度编程所述的基础上解吸柱13所述加热的所述的开始定时,关闭阀V1,V2该通风线路32以控制所述的打开和关闭,进一步,共2达到所述阱51,当所述陷波器51被充分冷却,将选择的绘制 : 图1
 
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