| 离子阱质谱仪使用所述用于质谱分析的装置和方法 |
| JP2014059673 2014-3-24 发明申请 |
| 2015-10-22 |
| 要解决的问题 : 测量时间的增加，样品的浪费，检测灵敏度而不引起的劣化等问题，离子阱中的空间电荷减少效果高的质量或质量分辨率，保证精度。方法 : m/z范围或该预定的总m/z范围后，获取数据(S5)，直到获取到数据积分而获得的质谱(S6)，谱峰各自检测的(S7-S8)的SN比计算。此外，通过比较每个峰和的SN比(S9～S10)阈值，指示SN比大于阈值的值对应于所测量的峰m/z m/z范围除去从测量的条件范围内(S11)。测量和测量的同时，重复改变的条件下，含弱离子峰m/z。SN比为低，直到所述一端的测量范围，同时减少浪费与精度高，同时减少空间电荷的作用，高分辨率，高灵敏度的测量能够进行。选择的绘图 : 图。3 |
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