质谱仪
 
US15104833  2014-11-20  发明申请

2017-2-2
 
  描述了用于操作质谱仪的方法和设备。 在各个方面,感兴趣的质量范围的离子可以从累积离子阱质量选择性地喷射到多离子阱结构中。 多离子阱结构的每个离子阱可以被配置成将离子限制在感兴趣的质量范围的一部分内。 可以从多离子阱结构的离子阱中同时扫描离子,以便在检测器部件处进行并行检测。
 
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