| 质谱仪 |
| US13029040 2011-2-16 发明申请 |
| 2011-8-18 |
| 当样品台(2)上设置样品板(3)时，照射轨迹形成控制器(22)适当地移动样品台(2)，并发出高功率激光束的短脉冲，以在样品板(3)上的预定位置处产生照射轨迹，照射轨迹具有独特的形状。 拍摄照射轨迹的显微图像并将其保存在图像存储部分32中。 在样品板3暂时从台2移除以将基质施加到样品上之后，样品板3被重新设置在同一台2上。 然后，根据在该时间点拍摄的图像与先前存储在图像存储部分32中的图像之间的照射轨迹的位置差，计算样品板3从其原始位置的位移。 基于计算结果，分析位置校正器24修改由操作员选择的区域的位置信息。 因此，可以精确地检测重新设置的样品板的位移。 不需要使用先前处理过的特殊样品板来创建用于位移检测的标记。 |
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