| TOF数据采集的强度校正 |
| US15008385 2016-1-27 发明申请 |
| 2016-5-26 |
| 提供了使用校准曲线校正质量分析器的均匀检测器饱和的系统和方法。 在一种方法中，从质量分析器接收测量的光谱，该质量分析器包括检测器和模数转换器(ADC)检测器子系统，并且使用处理器分析由离子源产生的离子束，该离子源电离样品的分子。 通过使用处理器对测量光谱中的离子强度求和来计算测量光谱的总离子值。 通过使用处理器将总离子值与存储的校准曲线进行比较来确定校正因子，该校准曲线提供作为总离子值的函数的校正因子。 测量光谱的强度乘以确定的校正因子，使用处理器产生校正后的测量光谱。 |
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