全局优化靶向质谱(GOT-MS)
 
US15140419  2016-4-27  发明申请

2016-11-3
 
  全局优化的靶向(GOT)质谱结合了代谢组学分析中靶向检测和全局分析的许多优点,包括检测未知物的能力、广泛的代谢物覆盖范围和出色的定量。 一种使用单个三重四极(QQQ)质谱仪的前体和产物离子的全局搜索包括在40-2000Da的质量范围内执行的SIM增量扫描或增量MS扫描,随后是具有增量碰撞能量的前体离子的串联MS/MS扫描以分析产物离子。
 
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