| 激光烧蚀进样平行元素和分子质谱分析 |
| US14763520 2014-1-28 发明申请 |
| 2016-1-7 |
| 一种用于质谱分析的设备包括激光消融取样器,该激光消融取样器包括激光消融室和产生激光束的激光器。 激光从放置在激光烧蚀室内的样品照射和烧蚀材料,以产生烧蚀的样品材料。 一种转移管系统,包括将激光烧蚀样品与软电离源和硬电离源中的每一个连接的转移管,并提供烧蚀样品材料到软电离源和硬电离源中的每一个的平行和同时的转移。 软电离源和硬电离源与烧蚀样品材料相互作用以分别产生具有质荷比分布的离子布居。 这些相应的质荷比分布被分别传送到分子质谱仪和元素质谱仪,它们提供关于质荷比分布的信息。 质荷比分布用于表征烧蚀样品材料的组成。 |