质谱仪中空间电荷的控制方法
 
US14131972  2012-7-11  发明申请

2014-5-15
 
  本发明公开了一种用于操作质谱仪的方法,所述质谱仪具有在构成总体质荷比范围的多个选定质荷比范围上的离子阱。 对于所述多个选择的质量至电荷范围中的每一个,所述方法包括用所述选择的质量至电荷范围的碎片离子填充所述离子阱, 冷却俘获在离子阱中的碎裂离子达第一冷却周期,向离子阱施加RF电压和解析直流电压以消除在选定离子质量至电荷范围之外的任何剩余碎裂离子并将离子保持在选定离子质量至电荷范围内,冷却离子阱中的保留离子达第二冷却周期,将保留离子扫描出离子阱并检测从离子阱中释放的离子。
 
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