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产业专利数据

质谱测定法

US14353762 2012-10-26 发明授权

2016-3-29

提供了一种用于质谱分析的方法。所述方法包括从样品产生前体离子；将所述前体离子传输到碰撞单元中；在碰撞池中产生产物离子；检测前体离子和产物离子；对所述前体离子强度和所述产物离子强度中的一个或多个施加调制；以及通过分析由调制定义的强度分布来识别前体离子和产物离子的关系。