| 离子阱质谱仪 |
| CN201080063985.2 2010-11-24 发明授权 |
| 2016-1-20 |
| 本公开涉及离子阱质谱仪。提供用于测量多个等时离子振荡的频率的静电阱质谱仪的装置41和操作方法。为了改进吞吐量和空间电荷容量，所述阱基本上在一个Z方向上延伸，形成再现的两维场。为阱Z延伸提供了多种几何结构。分析的吞吐量通过对静电阱进行复用来改进。频率分析通过下述方式来加速，即，缩短离子包，并且对镜像电流信号进行小波拟合分析、或者使用用于对每次振荡的离子的小部分进行采样的飞行时间检测器。为了对静电阱中的离子注入进行最优化，建议多个脉冲式转换器。 |
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