| 用于测量离子迁移率的谱方法 |
| DE102008015000 2008-3-19 发明授权 |
| 2015-4-9 |
| 本发明涉及测量离子迁移图谱与离子迁移质谱仪(IMS)。本发明提供了一种模拟调制的IMS离子源的离子电流具有连续调制功能，时间上变化的瞬时频率在一个大的频率范围，和生成从所测量的离子迁移谱的电流通过关联分析与调制模式。调制可，例如，产生选通栅极，其通常存在，所述模拟调制脱除许多的方波调制所出现的困难，使以一种出乎意料稳定的评价是相对不敏感的含噪信号和产生以非常高迁移率的分辨率低噪音。 |
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