| 方法和装置，用于估计一个分子质量参数在一个样品 |
| EP12183031 2012-9-4 发明申请 |
| 2013-3-6 |
| 该过程包括通过(102)样品(e)通过一种处理线包含微机电或纳米机电系统型质谱仪机电的传感器用于计数所述数量的连续检测所述吸附的部件，以得到一种信号代表该分子质量的参数，和估计(104，106，108，200)所述分子质量参数使用一种信号处理装置。该分子质量参数是所述的基础上定义一个连续时间的分布的参数的检测所吸附的部件。该过程包括通过(102)样品(e)通过一种处理线包括一微机电或纳米机电系统类型质量光谱仪机电的传感器用于计数所述数量的连续检测所述吸附的部件，以得到一种信号代表所述分子质量的参数，和估计(104，106，108，200)所述分子使用一个信号质量参数处理装置。该分子质量参数是所述的基础上定义一个连续时间的分布的参数的检测该吸附该部件通过所述机电的传感器。所述估计步骤是通过执行贝叶斯推论该信号的所述直接分析模型的基础上根据以所述的功能分子质量参数和所述处理线的技术参数。所述直接分析模型包括一个参数表示所检测的时刻在所述传感器检测所述吸附该组件。该分子质量参数是从所述参数表示所定义的检测时刻。所采取的形式是一个矢量表示该检测时刻的参数或参数的一个列表，用于每个检测所述的组件。该方法进一步包括检测所述部件在所述机电的传感器的吸附位点在其分析模型还包括其它参数的所述的吸附点和一个确定性的时间分布函数提供一种频率值。该分子质量参数和所述处理线根据其所直接分析该信号的模型是定义具有一概率依赖关系。所述估计步骤，通过近似一个参数相关的所述的后验概率到接头到所述分子质量参数所述处理线和所述的技术参数使用一随机采样算法获得有条件地向所述信号，包括提供所述采样值的参数使用样品环的所述参数，和该分子质量估计参数计算从所述采样值。一个独立的权利要求是包含用于一个装置，用于估计一个样品中的分子质量参数。 |
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