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样品分析系统和方法

US13977758 2011-12-29 发明申请

2013-12-26

本发明一般涉及用于样品分析的系统和方法。在某些实施例中，本发明提供了一种用于分析样品的系统，该系统包括探头，该探头包括连接到高压源的材料、用于产生加热气体的装置和质量分析器。