| 超高分辨同位素精细结构质谱法测定物质的元素组成 |
| US13753685 2013-1-30 发明授权 |
| 2015-8-18 |
| 利用超高分辨率质谱法，如FT-ICR质谱法，确定了物质同位素峰簇的精细结构。 在有机物质的非单同位素峰簇的精细结构中分解的单个峰通常包含额外的元素同位素13C、15N、17O、18O、2H、33S、34S及其组合。 在一系列实验的每一个中，分离出一个非单同位素峰簇并获得相应的精细结构谱。 记录分辨的精细结构峰的丰度及其在质量尺度上的位置，并在测量一些或全部同位素峰之后，计算被测物质的原子组成。 通过排除单同位素峰并且一次只隔离一个同位素峰簇，FT-ICR电池中的离子数目保持低，这避免了由于空间电荷效应和离子-离子相互作用现象造成的分辨率损失。 |
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