| 偏振和相位显微镜 |
| US16644987 2018-9-7 发明申请 |
| 2020-7-2 |
| 公开了用于测量偏振特性和相位信息的装置和方法，例如可用于显微镜应用中。 根据所公开的技术的一个示例，一种装置包括光源，干涉仪，所述干涉仪被配置为接收由所述光源产生的光并将所接收的光分成两个分束输出。 分束输出包括组合的干涉光束。 每个包括偏振敏感焦平面阵列的两个光传感器接收来自干涉仪的相应一个分离光束输出。 因此，所公开的技术的一些例子允许同时或同时测量光的特性，包括强度，波长，偏振和相位。 偏振敏感焦平面阵列包括多个宏像素，每个宏像素包括具有不同偏振滤波特性的超像素，每个超像素包括一个或多个像素，每个像素包括用于不同颜色的滤波器。 |
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