| 用于量化的技术的样品 |
| WOUS12065441 2012-11-16 发明申请 |
| 2013-6-6 |
| 用于量化技术被描述的分子在一个样品。质谱分析被执行，以获得用于前体和产品离子源自电离强度一特定分子。一第一组的前体具有最高的电离离子强度和从所述特定分子是确定始发。用于每个所述一个或前体在第一的设定，确定是一个第二组的一个或多个产品的离子片段与所述每个前体和具有该最高相关联的产品离子的电离强度与所述每个相关联的前体。一个强度之和是计算用于所述特定分子通过加入产品中包含的离子的电离强度所述第二组用于所述一个或多个前体在第一组。该强度之和相比是以一校准标准中所包含的信息。一该特定分子的量基于所述样品中被确定在所述比较。 |
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