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质谱仪

GB0717146 2007-9-4 发明申请

2007-10-17

本发明公开了一种质谱仪包括第一存储离子阱的上游设置高性能分析离子阱。根据一个实施例中，离子的同时扫描，从第一和第二离子阱。在任何时间瞬间，所述电荷量存在于第二离子阱的限制和制约，使第二离子阱不遭受空间电荷饱和效应，因此第二离子阱的性能不会退化。