| 用于质谱分析的方法和装置. |
| JP2010118302 2010-5-24 发明授权 |
| 2014-6-25 |
| 要解决的问题 : 重新配置不仅质量的质谱分辨率高,而且峰的强度精度高,在基于时间飞行质谱的通过复用得到的循环时间的飞行式质量光谱仪。方法 : 用于待测样品相同,时间飞行的谱而没有离子通过,的飞行时间谱与通过高时间分辨率采集(S1,S2)。由于单对多TOF值之间的关系和m/z值是基于已知的离子发射时间,一个系数矩阵A的峰值强度之间的关系表示在经过时间的飞行光谱的,一种质谱的峰值强度(未知)确定(S3)。在根据方误差最小化方法与质谱确定从非通行时间的飞行的光谱峰的强度为约准确,关于规则化的广义逆矩阵的系数矩阵A计算(S4),和每个m/z中的峰的强度计算使用这个基体(S5)。版权 : (C)2012,隆起部 |