| [docdb]细颗粒分析系统，制样装置，样品制备治具 |
| JP2012259527 2012-11-28 发明申请 |
| 2014-6-9 |
| 本发明提供一种样品制备装置，用于该样品制备装置的样品制备工具，以及配备有该样品制备装置和该分析仪的颗粒分析系统，该样品制备装置用于容易且直接地将从取样气体中收集的颗粒作为颗粒引入到分析仪中，该样品制备装置用于该样品制备装置，该样品制备装置用于该样品制备装置，该样品制备装置用于该样品制备装置，该样品制备装置用于该样品制备装置，该样品制备装置用于该样品制备装置，该样品制备装置用于该样品制备装置和该分析仪。 在用于分析取样气体中包含的微粒成分的微粒分析系统中，包括样品制备装置5，样品制备夹具9和质谱仪10，样品制备夹具9安装在样品制备装置5的夹具安装部7上，并且微粒沉积在形成在样品制备夹具9的前端部的样品保持面12上。 在质谱仪10的试样导入部11上安装有在试样保持面12上积聚有微粒的试样制备夹具9，将收集的微粒导入质谱仪11。 图1是选择图。 |
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