| 离子阱、质量分析计、离子迁移率分析计 |
| CN200810109182.0 2008-5-23 发明申请 |
| 2008-12-31 |
| 本发明提供一种离子阱、质量分析计、离子迁移率分析计，其课题在于提供一种小型、廉价、简便的质量分析单元，其能够应用可以实现无需在以往的质量分析方法中必须的高真空的低真空中的动作、小型且电极个数少并且形状易于加工、进而无需电子倍增管等放大的检测离子电流的离子检测方法。在该真空区域中以往使用离子迁移率分析单元，但通过本方式可以提供新的质量分析手段，可以针对各种应用显著地提高分析精度。使用在本发明中公开的一维离子阱。基于一维离子阱的质量分析单元可以囚禁大量的离子，可以提供能够在低真空中动作的质量分析方式，所以可以实现不使用高真空的质量分析单元。 |
微信公众号