| 质谱仪的质量相关自动增益控制 |
| US14206524 2014-3-12 发明申请 |
| 2014-10-9 |
| 公开了用于质谱仪中自动增益控制的系统和方法。 示例性系统可包括质谱仪和质量分析器，质谱仪包括配置成接收离子供应的透镜。 质量分析器可包括用于捕获所供应的离子的离子阱。 质量分析器还可以包括用于检测离开离子阱的离子的离子检测器。 透镜可以基于离子的质量不均匀地聚焦离子，以补偿在质谱仪的测量输出中反射的空间电荷效应。 示例性方法可包括将离子束聚焦到质量分析器中。 所述方法还可以包括获得质谱和基于所述质谱识别空间电荷特性。 该方法还可包括基于所识别的空间电荷特性使透镜散焦，其中使透镜散焦被配置成使较轻离子偏离入口孔径。 该方法可以包括获得从样品产生的离焦离子束的质谱。 |
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