| 质量缺陷的触发信息相关的采集 |
| WOCA07000010 2007-1-4 发明申请 |
| 2007-7-12 |
| 用于分析的系统和方法样品中的化合物。在一个实施例中，质量光谱仪包括一个用于发射多个离子的离子源从一个样品一起与一个检测器位于下游的所述离子源和被配置以检测所发出的离子冲击在所述检测器。该质量光谱仪还包括一个控制器可操作地耦合到所述检测器和以所述离子源和配置以计算用于每个检测到的所述M\/Z离子。所述控制器包括一个质量缺陷的滤波器配置，以确定如果该M\/Z用于每个检测到的离子落在一个预确定的质量缺陷的范围。该质量光谱仪还包括数据存储耦合到所述控制器，其中所述数据存储被配置成存储检测到的离子M\/对应的Z数据到所述M\/Z，用于一检测到的离子如果所述M\/Z落在所述质量缺陷范围。所述的质谱仪可以还包括一种离子质量滤波器位于下游的所述离子源和可操作地耦合到该控制器。该离子质量滤波器被配置成有选择地滤波器，用于离子基本上对应于所存储的检测到的离子M\/Z数据。该光谱仪可以还包括一个fragmentor可操作地耦合到所述离子质量滤波器，其中所述fragmentor是配置到每个选择的离子和以发射每个片段的片段向所述检测器。所述控制器是可操作地耦合到所述fragmentor和配置成用于检测每个片段计算的所述M\/Z由所述检测器。所述数据存储是优选地进一步被配置为存储片段M\/对应的Z数据以用于每个检测到的所述M\/Z片段。 |
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