与用于作用于探针和样品的装置相结合的扫描探针显微镜
 
US16302132  2017-5-18  发明授权

2020-6-23
 
  一种结合作用于探针和样品的装置的扫描探针显微镜,涉及测量技术,具体涉及纳米切片后探针法测量物体的装置。 可用于研究低温条件下生物和聚合物样品的结构。 本发明的目的是提高扫描探针显微镜的测量单元的元件的工作效率,该扫描探针显微镜与用于作用于探针和样品的装置相结合。 本发明的技术效果在于提高装置的分辨率和图像质量,以及通过检查更宽范围的样品来扩展装置的功能能力。
 
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