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质量光谱仪和质谱分析方法。

WOJP10004464 2010-7-9 发明申请

2011-1-20

为了测量正离子和负离子与高离子的利用效率，提供一种质谱仪装置与一种离子源(1)，一种离子导(31)，和离子阱(32)，被配置以便当离子正在质量-选择性地排出从所述离子捕集器，其与所述的极性相反的离子的离子被俘获在所述离子阱被引入到所述离子导。