在带电粒子源和带电粒子分析器之间具有一个单级带电粒子偏转透镜的气体分析的质谱法,两者都偏离偏转透镜的中心轴
 
US13155890  2011-6-8  发明申请

2012-12-13
 
  提供了一种装置、方法和系统,用于禁止从带电粒子源到分析器的视线,并用于改变分析器的输出光谱的基线偏移。 带电粒子的供给被引导通过相对于带电粒子源和分析器定位的偏转透镜的中空体。 沿着通过偏转透镜的优选流动路径的流动路径允许离子从源通过到检测器,同时禁止在平行于偏转透镜的中心纵轴的方向上从检测器到源的视线。
 
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