| 光学显微镜和观察方法 |
| JP2020031954 2020-2-27 发明申请 |
| 2020-6-18 |
| [问题]宽视场，并且，在高NA下可观察到光学显微镜。 本发明的一个方面应用于显微镜， 光源11， 光偏转镜伺服装置17， 样品的20和21由观察到的光折射透镜的非线性光学现象引起， 由二向色镜DCM2观察到的LX1继电器分离的入射光， 和LX2， LX1中继透镜， 以及用于检测来自观察LX2PMT1的光的光检测器， 具有， 在物镜20的中心， 伺服型扫描镜17是，在照射光41的中心区域中，通过扫描照射光，将通过物镜41和42的中心区域的光投影到观察透镜20周围的LX1，LX2PMT1上而通过光电检测器检测到的。 图1[附图] |
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