| 离子阱飞行时间质谱仪 |
| US13310377 2011-12-2 发明申请 |
| 2012-6-7 |
| 提供了一种提高离子阱飞行时间质谱仪的质量分辨率的技术。 在从离子阱喷射离子之前的冷却过程的最后阶段，施加到离子阱的环形电极的矩形波电压的频率增加几个到几个周期。 这种操作减小了离子阱的限制电位深度，并使俘获的离子减速。 当矩形波电压停止并产生加速电场时，离子的翻转时间缩短。 因此，减少了具有相同质荷比的离子的飞行时间的变化。 增加频率的时间被确定为使得由于限制电位的深度减小而引起的离子扩散将落在飞行时间质谱仪可校正的范围内。修改仅仅是为了满足不超过150字的摘要的要求，而不是为了响应任何类型的实质性拒绝。 新的摘要中没有增加新的内容。 |
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