| 质谱方法和质谱分析装置 |
| WOJP06322740 2006-11-15 发明申请 |
| 2008-5-22 |
| 该未知物质的组合物是基于估计得到的质谱分析该样品上通过质量光谱法。接着，该未知物质被称为到作为前体离子和MS\/MS被执行。从该MS\/MS光谱中出现的峰，每个产品的离子是确定所测量的质量(S1到S4)。在另一方面，该组合物，该产品的离子通过所述解理形成的所述未知物质是通过结合该种估计的所述元件构成所述估计的所述未知物质的组合物与所述的计数该单独的元件，从而计算该理论质量。然后，它是检查是否或不存在是一示出的理论质量与所述的测量的质量一致性该产品离子(S5)。当不存在产物离子具有一与所述一致的质量，它可以理解，所述原始该未知物质的被误估计。因此，该结果被反馈到所述组合物，所述候选估计和所述的范围用于所述组合物该未知物质是变窄的(S6)。 |
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