| 离子阱质量分析装置和质量分析方法。 |
| WOJP11066796 2011-7-25 发明申请 |
| 2012-2-2 |
| 本发明提供一种离子阱质量分析装置，用于MS只\/MS分析，其中所述MS光谱中的片段信息获得的是，使得分析可以在短时间执行。该离子阱质量分析装置是提供具有 : 一个离子化单元，用于电离一个样品分离成每个组件; 一种离子阱单元，用于保持所述离子化离子通过电场中所述离子化单元和还排出所述离子在根据该离子的质量; 一个检测单元，用于检测所述离子从所述离子阱排出单元; 和一个处理单元，用于产生一个MS光谱(质谱)所述检测到的数据的基础上通过所述检测单元。所述处理单元被构造以获得该MS谱只有该片段的信息的所述目标离子从所获得的所述MS之间的差光谱通过MS分析前和后执行MS\/MS分析和该MS通过MS\/MS分析获得的光谱。 |
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