| MS/MS质谱计 |
| US13455228 2012-4-25 发明申请 |
| 2012-8-16 |
| 通过在碰撞单元中设置两个离子注入孔23、25，使碰撞单元的离子注入侧的气体电导大于离子出口侧的气体电导。 由于气体导电性的不同，通过气体供给管31供给的CID气体通常在碰撞单元中沿从离子注入侧到离子出口侧的方向流动，即沿离子的通过方向流动。 当注入到碰撞室20中的离子在与CID气体接触时减慢时，它们的进展由气流辅助，从而减缓了碰撞室20中离子的延迟。 结果，能够避免目标产物离子的检测灵敏度的劣化，并且能够防止由离子的滞留引起的鬼峰。 |
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