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离子阱质谱分析

KR1020120143357 2012-12-11 发明授权

2014-4-2

本发明涉及离子阱质量分析仪，涉及，用于离子质量的测量RF(射频)信号用于创造时间和补偿它在扫描波形电压信号测量RF离子质谱进行质量测量的。根据本发明的用于离子的RF信号的质量的测量，并进行记录，两个RF信号测量参考电压能够始终正确地可以用于质量测量的离子。