用于原子力显微镜的探针及其制造方法
 
KR1020180154950  2018-12-5  发明申请

2020-6-16
 
  一种用于原子力显微镜的探针,包括探针针尖和位于探针针尖表面上的涂层,该涂层包括金属硅化物(金属硅化物)。 用于原子力显微镜的探针是肖特基势垒,因为在测量半导体样品时不会发生由于肖特基势垒引起的电流扰动。 本发明可以大大提高半导体表面导电测量的准确性和可靠性。 提供了一种用于原子力显微镜的探针,以提高半导体表面的导电测量的分辨率和可靠性。
 
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