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产业专利数据

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质谱系统的校准

US13661486 2012-10-26 发明申请

2013-2-21

一种用于操作质谱仪(MS)的方法，包括建立跨膜的压差，其中在所述膜的上游侧上的校准气体入口管线中的上游压力大于在所述膜的下游侧上的离子源中的下游压力；使校准气体从校准气体入口管线流过膜的纳米级孔口，并进入离子源；以及将上游压力保持在恒定值。校准剂可以以低流速流动。一种MS系统包括插入在校准气体引入系统和质谱仪之间的膜。膜可以包括纳米级直径的孔口。