| 电阻分析仪器中使用的玻璃结构与形状的电场 |
| CA2581463 2007-3-9 发明申请 |
| 2007-9-10 |
| 一种reflectron透镜，用于一个时间--飞行的质谱仪是本发明公开了。所述reflectron透镜包括一玻璃管具有一个导电表面沿所述管的长度。所述导电表面沿其长度具有一电阻梯度。所述电Al电阻梯度提供一个电场强度中变化的内部到所述管的AlONG所述管的长度时的电位被施加到所述管的相对的端部。一质量光谱仪结合所述reflectron透镜，一个reflectron透镜制造所述的方法，Nd一种装置，用于除去引线从所述本发明还公开了一种引线硅酸盐玻璃管的表面。 |
微信公众号