产业专利数据
 
观察装置，内窥镜，显微镜及观察方法
 
JP2018226625  2018-12-3  发明申请
2020-6-11
 
  [A]具有3维双折射的样品分布，根据来自样品的照明光的偏振方向来测量所考虑的点状态的变化。 设置观察装置[A]，用于照射样品的偏振光源，偏振光照射方向改变部的样品，从样品发射的偏振光中的至少一个反射光和散射光检测光学系统焦点。 图1[附图]
 
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