| 飞行时间质量分析器包括位于飞行时间质量分析器的离子源和飞行管之间的离子飞行路径中的多极离子引导件。 在一个优选实施例中,飞行时间(TOF)质量分析器被配置为使得多极离子引导器定位在TOF质量分析器的离子源和离子脉冲区域之间的离子路径中。 多极离子引导电子器件和离子引导入口和出口静电透镜被配置成能够捕获或穿过从大气压离子源输送的离子。 离子引导电子器件可被设置成选择可成功地传输或俘获在离子引导中的离子的充电质量(m/z)范围。 可以使用诸如具有谐振频率的陷波滤波、不需要的m/z值的离子喷射等技术来选择m/z值的一组以上。 然后,使用至少三种技术中的一种,在透射或俘获模式下具有稳定离子引导轨迹的所有或部分离子可以经历碰撞诱导解离(CID)。 在离子破碎步骤期间,多极离子引导AC和DC电势被设置为传输或俘获由CID工艺产生的全部或部分碎片离子。在离子破碎步骤期间,多极离子引导AC和DC电势被设置为传输或俘获由CID工艺产生的全部或部分碎片离子。 母体离子和碎片离子群体的全部或一部分从多极离子导轨输送到飞行时间质量分析器的脉冲区进行质量分析。 在第一离子破碎步骤之后,多极离子引导AC和DC电势可再次被设置为选择窄的m/z范围,以在捕获模式下清除除所选的一组碎片离子之外的所有离子引导。在第一离子破碎步骤之后,多极离子引导AC和DC电势可再次被设置为选择窄的m/z范围以清除除所选的一组碎片离子之外的所有离子引导。 M/Z选择和离子碎裂步骤可以重复多次,在所有MS/MSN步骤结束时进行质量分析,或者在MS/MSN逐步过程中的不同时间进行质量分析。 还描述了一种技术,可以将通常的逐步MS/MSN分析功能合并到单个步骤中,从而增加有效占空比。 用于离子传输、俘获和破碎的多极离子引导件可以位于一个真空泵级中,或者可以连续延伸到一个以上的真空泵级中。 |