| 用于在样品装置上自动确定位置的方法和相应的显微镜 |
| DE102018131427 2018-12-7 发明申请 |
| 2020-6-10 |
| 本发明涉及一种用于自动确定显微镜(1)的物方中的样品装置(40)上的多个位置(P1P8)的方法。 包括显微镜物镜(10)， 其限定光轴(8)， 其中测量光束(30)由测量光束装置(19)产生并被引导到样品装置(40)和测量光束(32)上， 由检测器(28)检测由样品装置(40)32')反射的样品， 产生输出信号， 样品装置(40)在至少一个垂直于光轴(8)的方向上移动， 并且其中，根据位移，借助于在至少一个方向上的位移期间产生的检测器(28)的输出信号和相应的显微镜(1)来确定样品装置上的多个位置(P1P8)。 |
微信公众号