| 细颗粒分量分析仪 |
| JP2006295713 2006-10-31 发明申请 |
| 2008-5-15 |
| 要解决的问题 : 以提供一细颗粒分量分析仪能够快速地进行校准，即使当所述的组件纳米-表尺寸的细颗粒的被分析。溶液 : 该微粒成分分析仪110包括一个取样装置111用于采样气氛中，静电分类器112用于分类和发送一个精细粒子2纳米-表尺寸的，作为一个目标颗粒直径，从所述采样气体1采样通过所述采样装置111，一种激光电离飞行时间质谱仪114的类型，用于分析所述所述精细粒子2的组件从所述分类器112，和一个校准对象的制造装置10产生一个校准物3以其一种校准部件3b的限定量的被粘附到金属芯3a所述粒子的细颗粒与一目标数每单位体积并将其供给到该分类器112。版权 : (C)2008，inpit |
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