分析仪器使用一个伪随机阵列的源,诸如一微加工质量光谱仪或单色仪
 
WOUS03005517  2003-2-20  发明申请

2003-8-28
 
  这里公开了新颖方法和结构,其采用伪随机序列,以在空间上排列的多个源在一个伪随机源阵列。所述伪随机源阵列可以代替所述分析仪器中的单源依赖的空间上分离所述样品或由所述源发出的所述探针颗粒\/波。所述大数量的该伪随机源阵列中增强了所述信号源上的一位置敏感检测器。一种具有改进的去卷积过程检索一频谱的数学信号-噪声比从所述检测器信号。
 
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