| 倒置显微镜 |
| JP2018217825 2018-11-21 发明申请 |
| 2020-6-4 |
| [A]通过使用不必要的结构来提高工作效率的同时，抑制由培养容器的底部形状引起的光学性能的劣化，高分辨率地观察样品。 井5a的底面6的下端6b与物镜7相对配置， 物镜7在物镜7的光轴方向上改变井5和瞄准部9的相对位置， 物镜7的光轴在与井5正交的方向上移动，以支撑马达11和载物台K， 物镜5与透镜7之间的相对位置保持恒定的井7被设置状态， 能够透射来自所形成的样品S的光， 在井56b的底部和井13a之间的上下水在底部6B与由光学部件13保持的下表面W26接触时可以设置倒置显微镜1。 图1[附图] |
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