用于隐形眼镜涂层选择和制造的环境扫描电子显微镜分析
 
WOIB19060197  2019-11-26  发明申请

2020-6-4
 
  使用高分辨率环境扫描电子显微镜来捕获隐形眼镜涂层的图像,使得能够精确地表征涂层的涂层厚度和结构。 涂层可直接可视化,定量测量。 此外,可以在环境扫描电子显微镜中建立具有变化的温度和变化的相对湿度水平的受控环境,从而可以成像和测量在这种条件下涂层的动态变化。 可设置受控环境以模拟制造工艺条件,或设置受控环境以模拟眼上透镜条件。
 
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