| 离子迁移率用离子光学漏极 |
| US12722863 2010-3-12 发明申请 |
| 2010-9-23 |
| 样品分析系统包括用于从样品分析系统中去除残留离子的离子去除机构。 离子去除机构可以包括在离子光学组件中，该组件将离子迁移率过滤器连接到质量分析器。 可将待由样品分析系统分析的样品输入到离子迁移率过滤器中。 离子迁移率过滤器过滤样品的离子，并将过滤的离子组传递到离子光学组件。 离子光学组件将经过滤的离子组输送到质量分析器，在质量分析器中检测该组中的一些或全部离子。 然后，离子去除机构从离子光学器件中去除在第二过滤组通过之前从第一过滤组留下来的所有或基本上所有残留离子。 |
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