产业集群信息网

产业专利数据

频率扫描线性离子阱质谱法

US13534449 2012-6-27 发明申请

2013-1-3

一种离子阱质谱仪和通过扫描施加到线性离子阱的RF频率来获得离子的质谱的方法，用于通过使用两个功率放大器将RF的相反相位施加到X电极和Y电极来质量选择性地喷射离子。