| 纳米颗粒成分测定装置 |
| JP2008069656 2008-3-18 发明申请 |
| 2009-10-1 |
| 要解决的问题 : 以提供一种纳米颗粒组件用于精确测量装置测量纳米颗粒组合物具有高灵敏度。溶液 : 所述纳米颗粒用于测量部件测量装置10a的排气气体中的纳米颗粒，它是一种测量气体11; 包括一个静电用于分类的分类器12所述测量气体中的一种纳米颗粒组件11，一种带电粒子的聚光部14，用于冷凝所述纳米颗粒的带电通过所述的静电分类器12，和一质量光谱仪16用于测量所述组件该冷凝的纳米颗粒。所述带电颗粒用于形成一第一聚光部14包括第一电极的电场在所述纳米粒子，和第二电极，用于形成一个第二电场冷凝所述纳米颗粒通过第一的电场集中还和具有一电压高于第一的电场。版权 : (C)2010，inpit |
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