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离子隔离方法和质量光谱仪

WOJP10072331 2010-12-13 发明申请

2011-9-29

本发明公开了一种方法，其中，预定离子被隔离和离子阱中离子被左左在所述的时间进行质谱分析使用所述离子阱。为了具有高离子隔离必需的精度和缩短一个时间用于离子隔离，一第一时间其中离子具有比所述离子被左下质量被隔离是设定短于一个第二时间，其中离子具有比所述离子到一个较高的质量被左被隔离。