| 分光镜的质量 |
| WOJP08001760 2008-7-3 发明申请 |
| 2010-1-7 |
| MS分析被用于每个执行一指定的质量光谱范围内的显微区域的一个样品上，并且指定m\/Z或M\/分布的Z范围根据所导出的数据中产生的图像被从该MS分析要绘制的一显示屏幕上(S10到S14)。当操作者这种图像的视图，以标识一个感兴趣的物质，和指示该相关的M\/Z(S15)，显微区域，其中所述的M\/Z强度超过该MS光谱被提取的一个上阈值，和该MS\/MS分析为用于该显微区域进行使用M\/Z的所述感兴趣的物质作为前体(S26，S27)。一个平均MS\/MS光谱计算从所述导出的MS\/MS光谱数据用于每个所述的显微区域(S28); 和所述感兴趣的是识别由所使用的物质的峰值信息出现在所述平均MS\/MS光谱(S19)。 |
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