| 质谱测定装置和使用该装置方法 |
| US12785119 2010-5-21 发明授权 |
| 2012-11-27 |
| 一种质谱测定装置，包括 : 用于表面辅助激光解吸/电离质谱测定的质谱测定用基板；用光照射装置，用测量光L1照射与基板的表面接触的样品S以从表面解吸样品S中的分析物R；金属探针，通过用测量光L1照射在其前端产生近场光；检测器，检测解吸的分析物R i；以及分析装置，基于检测器的检测结果对分析物R执行质谱测定。 金属探针的前端以这样的方式布置，即由测量光L1照射产生的近场光与样品S的测量光照射部分接触。金属探针相对于测量光照射部分布置在与检测器的方向不同的位置。 |
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