| 样品板用于MALDI-TOF质谱分析仪和一种方法用于使用所述MALDI-TOF质量分析质量光谱仪 |
| KR1020120074399 2012-7-9 发明申请 |
| 2012-8-29 |
| 目的 : 一样品板用于一种maldi_tof(矩阵assissted激光解吸电离飞行时间)质量光谱仪和一质量被提供到质量分析使用所述相同的方法-产生通过形成一金属氧化物与一顶向下的方法。结构 : 一金属用于金属氧化物形成平坦的板包括一个光催化功能。一种金属氧化物纳米线点包括多个金属平板的纳米线，所述金属氧化物纳米线点与一顶向下的生长方法。所述金属氧化物纳米线点与一湿端是形成方程的方法。一种金属氧化物纳米线具有该光催化功能为TiO2。一种用于一质量光谱仪包括一个半导体衬底样品板或金属所述相反表面上形成，其中TiO2纳米线中的点被形成。版权kipo2012 |
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